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镀层测厚仪与之前相比的优点

发布时间:2023-11-01 人气:22

镀层测厚仪是 新研发的新产品,是德国EPK/易高等同类产品的替代产品,与之前涂层测厚仪相比有以下主要优点: 

  1. 测量速度快:测量速度比其它TT系列快6倍;

  2. 精度高 :本公司产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上能达到A级的产品,其精度远高于时代等国内同类.比EPK等进口产品精度也高;

  3. 稳定性:测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品;

  4. 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法

覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。


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